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解決方案
法醫(yī)學(xué)硅藻檢驗(yàn)解決方案
積極推廣硅藻檢驗(yàn)新技術(shù)，竭誠(chéng)為客戶(hù)提供全套法醫(yī)學(xué)硅藻檢驗(yàn)解決方案，包括實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)和建設(shè)、設(shè)備安裝調(diào)試和維護(hù)、人員培訓(xùn)、案件檢驗(yàn)服務(wù)、科研服務(wù)等。
火災(zāi)熔珠解決方案
? 基于國(guó)家發(fā)布的中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《電氣火災(zāi)痕跡物證技術(shù)鑒定方法》(GB/T 16840),為客戶(hù)提供先進(jìn)的具有“安全、環(huán)保、高效、準(zhǔn)確、自動(dòng)”等特點(diǎn)的火災(zāi)熔珠檢驗(yàn)整體方案，包括：各類(lèi)理化實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)和建設(shè)、設(shè)備安裝調(diào)試和維護(hù)、人員培訓(xùn)、案件檢驗(yàn)服務(wù)、科研服務(wù)等。
重要資訊
掃描電鏡——現(xiàn)代法醫(yī)學(xué)的”福爾摩斯”
在現(xiàn)代法醫(yī)學(xué)中，掃描電子顯微鏡（SEM）已成為不可或缺的”神兵利器”。它不僅能將物體放大幾萬(wàn)倍，更神奇的是，結(jié)合X射線(xiàn)能譜分析技術(shù)（EDX），還能”看到”物質(zhì)的化學(xué)成分！
熱烈慶祝廣州競(jìng)贏(yíng)用戶(hù)成功發(fā)表頂刊論文|JY-S100為電子顯微成像提供可靠助力
客戶(hù)的成功，是衡量我們產(chǎn)品與服務(wù)價(jià)值的最終標(biāo)準(zhǔn)，廣州競(jìng)贏(yíng)自主研發(fā)的國(guó)產(chǎn)設(shè)備也已經(jīng)出現(xiàn)在了一些高品質(zhì)論文中。這是我們最近收集到的一篇深圳大學(xué)發(fā)表在土木工程領(lǐng)域國(guó)際權(quán)威期刊 《Construction and Building Materials》中的論文?。
掃描電鏡——現(xiàn)代法醫(yī)學(xué)的”福爾摩斯”
在現(xiàn)代法醫(yī)學(xué)中，掃描電子顯微鏡（SEM）已成為不可或缺的”神兵利器”。它不僅能將物體放大幾萬(wàn)倍，更神奇的是，結(jié)合X射線(xiàn)能譜分析技術(shù)（EDX），還能”看到”物質(zhì)的化學(xué)成分！
半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié)構(gòu)中位錯(cuò)等應(yīng)變誘導(dǎo)缺陷的電鏡觀(guān)察
高分辨率透射電鏡（HRTEM）等先進(jìn)技術(shù)進(jìn)一步揭示了錯(cuò)配位錯(cuò)在原子尺度上適應(yīng)應(yīng)變的機(jī)制。熱力學(xué)研究證實(shí)，通過(guò)位錯(cuò)形成實(shí)現(xiàn)的應(yīng)變松弛對(duì)維持半導(dǎo)體器件的結(jié)構(gòu)完整性具有重要意義。
掃描電鏡（SEM）樣品安裝技術(shù)指南
在進(jìn)行掃描電子顯微鏡（SEM）觀(guān)察時(shí)，樣品的安裝常常被忽視，但它對(duì)成像效果的影響與前期所有準(zhǔn)備工作一樣關(guān)鍵。對(duì)樣品安裝步驟予以充分的重視和細(xì)致的操作，將在實(shí)際成像中帶來(lái)顯著收益。 合理安裝樣品可確保： 所需方向的準(zhǔn)確定位，減少不必要的樣品臺(tái)調(diào)節(jié)； 良好的機(jī)械穩(wěn)定性，降低因振動(dòng)或漂移造成的圖像模糊； 有效的電氣接地，防止圖像中出現(xiàn)充電偽影。 實(shí)現(xiàn)理想樣品安裝的三大要素 1. 樣品方向：與電子束/探測(cè)器系統(tǒng)的相對(duì)關(guān)系 將電子束想象成“你的視線(xiàn)”，而探測(cè)器則如“太陽(yáng)”，決定了圖像中的光照方向與陰影效果。...
高分辨冷凍電鏡的樣品制備技術(shù)與方法論
作者：孫千 本文轉(zhuǎn)載自公眾號(hào)：老千和他的朋友們。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/5knEtUmuutzHSsXnUMCpZg 近年來(lái)，冷凍電鏡（cryo-EM）技術(shù)在結(jié)構(gòu)生物學(xué)領(lǐng)域取得了革命性的進(jìn)展。這些進(jìn)步主要?dú)w功于幾個(gè)關(guān)鍵因素：量子效率更高的直接電子探測(cè)器，配備自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)和數(shù)據(jù)采集功能的現(xiàn)代化電鏡系統(tǒng)，用于密度圖分類(lèi)和三維重建的算法軟件的顯著改進(jìn)，以及更為穩(wěn)定、可重復(fù)的樣品支撐技術(shù)。這些技術(shù)創(chuàng)新共同推動(dòng)了冷凍電鏡結(jié)構(gòu)測(cè)定能力的飛躍式發(fā)展，使其成為解析生物大分子結(jié)構(gòu)的強(qiáng)大工具。...
關(guān)鍵尺寸掃描電鏡（CD-SEM）技術(shù)解讀
無(wú)論是實(shí)驗(yàn)室通用型還是用于集成電路結(jié)構(gòu)和尺寸測(cè)量的專(zhuān)用設(shè)備，SEM的基本工作原理基本一致。SEM之所以得名，是因?yàn)樗眉?xì)聚焦的電子束，以精確的光柵掃描模式（通常為矩形或正方形）逐點(diǎn)掃描樣品表面。
SEM的電子束來(lái)自電子源，通常在0.2千伏到30千伏的加速電壓下運(yùn)行。在半導(dǎo)體生產(chǎn)中，CD-SEM多在0.4千伏至1千伏的電壓范圍內(nèi)工作。電子束沿鏡筒向下，通過(guò)一個(gè)或多個(gè)電子光學(xué)聚光鏡被縮小，其直徑從幾微米逐漸收縮到納米量級(jí)。
在SEM中實(shí)現(xiàn)4D-STEM及其晶體學(xué)應(yīng)用
作者：孫千 本文轉(zhuǎn)載自公眾號(hào)：老千和他的朋友們。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/tp4Kp5kogCBN43bjx7JT0A 四維掃描透射電鏡（4D-STEM）是一種通過(guò)聚焦電子束在電子透明樣品上掃描，同時(shí)收集實(shí)空間和倒易空間的二維圖像的技術(shù)。這種方法產(chǎn)生四維數(shù)據(jù)集，因此得名4D-STEM。 需要明確的是，這里的維度并不涉及時(shí)間；而是指所得四維數(shù)據(jù)集包含空間和衍射信息。具體來(lái)說(shuō)，兩個(gè)維度代表樣品中的x和y坐標(biāo)（實(shí)空間位置），而另外兩個(gè)維度代表每個(gè)位置處的衍射圖案中的kx和ky坐標(biāo)（倒易空間）。...
植物透射電鏡福音：數(shù)小時(shí)完成樣品制備！優(yōu)化快速微波技術(shù)詳解
傳統(tǒng)的TEM樣品制備，尤其是對(duì)于結(jié)構(gòu)復(fù)雜的植物樣品，其漫長(zhǎng)的處理周期（通常需要3-4天）一直是制約研究效率的瓶頸。試劑緩慢的滲透擴(kuò)散速率，常常讓研究人員在等待中消耗寶貴的時(shí)間。
今天，為大家介紹一項(xiàng)由美國(guó)農(nóng)業(yè)部農(nóng)業(yè)研究局（USDA-ARS）電子與共聚焦顯微鏡部門(mén)的 Joseph Mowery 和 Gary Bauchan 研究員帶來(lái)的優(yōu)化技術(shù)，該技術(shù)利用快速微波處理，可以?xún)?yōu)化植物樣品TEM制備的流程。
環(huán)境掃描電鏡（ESEM）成像技術(shù)解讀
掃描電鏡(SEM)自問(wèn)世以來(lái)，已成為材料科學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域不可或缺的研究工具。然而，常規(guī)掃描電鏡(CSEM)在樣品制備及成像方面存在明顯局限：需要高真空環(huán)境、樣品必須導(dǎo)電或經(jīng)過(guò)導(dǎo)電處理（低電壓成像可不鍍導(dǎo)電膜），且必須處于干燥狀態(tài)。這些限制極大地約束了其在某些領(lǐng)域的應(yīng)用潛力，特別是對(duì)于濕態(tài)樣品或絕緣材料的研究。
環(huán)境掃描電鏡(ESEM)技術(shù)的出現(xiàn)，為克服這些限制提供了新的解決方案。
